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日本日置HIOKI 日置 IM3523|IM3533 LCR测试仪
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日本日置HIOKI 日置 IM3523|IM3533 LCR测试仪

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公司介绍
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。● 内置比较器和BIN功能● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
测量模式LCR,连续测试测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为最高分辩率时的显示位数)只有 Z和Y显示真有效值θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°测量频率40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)测量信号电平正常模式V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrmsCC模式: 10μA~50mArms,10μArms输出阻抗正常模式:100Ω显示单色LCD测量时间2ms... [详细介绍]
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